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x射線鍍層測厚儀廠家?Thick 8000 X射線鍍層測厚儀?是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器，自動切換
雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器，降低檢出限，提高測試精度
自動智能控制方式，鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣
關(guān)蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦
直接點擊景或局部景圖像選取測試點
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結(jié)果
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
分析含量：般為2ppm到99.9%
X射線鍍層測厚儀鍍層厚度：般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
穩(wěn)定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
采用的微孔準直技術(shù)，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
在計數(shù)率的情況下能分辨相近元素，大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。
某外儀器檢測譜圖
次數(shù)
行業(yè)內(nèi)其他儀器 | ||
0.042 | 2 | 0.0459 |
0.043 | 4 | 0.0432 |
0.0429 | 6 | 0.0458 |
0.0427 | 8 | 0.045 |
0.0416 | 10 | 0.0485 |
0.0422 | 平均值 | 0.0459 |
0.0007 | 相對標準偏差 | 4.03% |
0.0024 | Think600X射線鍍層測厚儀
Think600X-RAY電鍍層測厚儀使用而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。 穩(wěn)定X銅光管 分析范圍： Ti-U，可分析高3層15個元素 1、儀器概述 2、性能優(yōu)勢 3、技術(shù)指標 4、標準配置 1、儀器概述 2、性能優(yōu)勢 3、技術(shù)指標 4、測試實例 銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖 樣 品 名 | 鍍層Ni(um) |
100 | 吊扣2# | 19.665 |
100 | 吊扣4# | 19.302 |
100 | 吊扣6# | 19.031 |
100 | 平均值 | 19.18314 |
0 | 相對標準偏差 | 1.425257 |
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